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    電磁兼容(EMC)測(cè)試

    電磁兼容(EMC)測(cè)試概述

      電磁兼容(EMC)是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大小(EMI)和抗干擾能力(EMS)的綜合評(píng)定,是產(chǎn)品質(zhì)量及其可靠性*重要的指標(biāo)之一,電磁兼容(EMC)測(cè)試主要是由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器兩部分組成。

    電磁兼容(EMC)測(cè)試的構(gòu)成

      EMC包含兩大項(xiàng):EMI(干擾)和 EMS(敏感度,抗干擾)

      EMI測(cè)試項(xiàng)包括:RE(輻射,發(fā)射)

      CE(傳導(dǎo)干擾)

      Harmonic(諧波)

      Flicker (閃爍)

      EMS測(cè)試項(xiàng)包括:ESD(靜電)

      EFT(瞬態(tài)脈沖干擾)

      Surge(浪涌,雷擊)
        CS(傳導(dǎo)抗干擾)
        DIP(電壓跌落)
      

      RS(輻射抗干擾)  

      PMS(工頻磁場(chǎng)搞擾度)

    電磁兼容(EMC)測(cè)試指南

      一、EMI(電磁騷擾)分射頻和工頻兩類測(cè)試

      l 射頻類測(cè)試項(xiàng)目:

      1.1 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試

      射頻傳導(dǎo)(屏蔽室測(cè)試)

      1.1.1 傳導(dǎo)分電壓和功率兩項(xiàng)測(cè)試

      1.1.2 傳導(dǎo)電壓標(biāo)準(zhǔn):CISPR1114、15、22

      1.1.3 傳導(dǎo)功率標(biāo)準(zhǔn):CISPR1114

      射頻輻射(電波暗室測(cè)試)

      1.1.4 射頻輻射標(biāo)準(zhǔn):CISPR11、22IEC60571

      l 工頻類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

      1.2 工頻分諧波和閃爍兩項(xiàng)測(cè)試

      工頻諧波1.2.1 IEC6100-3-2

      工頻閃爍1.2.2 IEC6100-3-3

      二、EMS(電磁敏感度)分瞬變、射頻、低頻磁場(chǎng)、電源質(zhì)量

      l 瞬變類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

      2.1 瞬變分靜電、瞬變脈沖和浪涌三項(xiàng)測(cè)試

      瞬變靜電IEC6100-4-2

      瞬變脈沖IEC6100-4-4

      瞬變浪涌IEC6100-4-5

      l 射頻類項(xiàng)目

      2.2 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試

      射頻傳導(dǎo)IEC61004-6(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

      射頻輻射IEC6100-4-3(電波暗室測(cè)試)

      l 低頻磁場(chǎng)類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

      2.3 低頻磁場(chǎng)分脈沖磁場(chǎng)和工頻磁場(chǎng)兩項(xiàng)測(cè)試

      脈沖磁場(chǎng)IEC6100-4-9

      工頻磁場(chǎng)IEC6100-4-8

      電源質(zhì)量類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)

      2.4分跌落、中斷、電壓變化三項(xiàng)測(cè)試

      IEC6100-4-11

      注:1. 傳導(dǎo)功率測(cè)試面積 >7x1M

      2. 傳導(dǎo)電壓測(cè)試桌:推薦 2x1.5x0.8

      要考慮柜式設(shè)備的測(cè)試面積。

      3. 諧波及閃爍測(cè)試面積 >2x2

      4. 靜電放電測(cè)試桌:推薦 2x1.5x0.8

      5. 瞬變及電源質(zhì)量測(cè)試桌: 推薦 2x1.5x0.8

      4. 5. 可用同一張測(cè)試桌

      6. 傳導(dǎo)射頻敏感度測(cè)試桌: 推薦 2x1.5x0.8

      5. 6. 可用同一張測(cè)試桌

      7. 屏蔽室和實(shí)驗(yàn)室要有相應(yīng)的溫濕度要求

      8. 敏感度測(cè)試時(shí)周圍不能有敏感設(shè)備

      9. 在實(shí)驗(yàn)室做測(cè)試時(shí),周圍不能有發(fā)射或干擾設(shè)備

      否則測(cè)試要在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。

      10. 除功率放大器和諧波,閃爍系統(tǒng)為三相供電外,其他

      設(shè)備均為單相供電。

      11. 有標(biāo)準(zhǔn),為現(xiàn)在手頭的標(biāo)準(zhǔn)。

      12. 以上為*低測(cè)試環(huán)境要求?。。?!

      13. 所有測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),如需要國(guó)標(biāo)的請(qǐng)對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照表?。。。?br>

    電磁兼容(EMC)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

      EN 55014-1: 家用電器輻射

      EN 55014-2: 家用電器輻射抗擾度

      EN 55011: 工業(yè)、科學(xué)、醫(yī)療設(shè)備輻射

      EN 55015: 照明電器輻射

      EN 61547: 照明電器輻射抗擾度

      EN 55022:信息技術(shù)設(shè)備輻射

      EN 55024: 信息技術(shù)設(shè)備輻射抗擾度

      EN 60601-1-2: 醫(yī)療電子設(shè)備電磁兼容

      EN 61000-6-1:居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境使用的通用設(shè)備輻射

      EN 61000-6-3:居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境使用的通用設(shè)備輻射抗擾度

      EN 61326: 測(cè)量用儀器設(shè)備電磁兼容

      IEC 61000-4-2-2001電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn) 
        IEC61000-4-4-2004電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

      IEC 61000-4-5-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn) 
        IEC61000-4-8-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
      IEC 61000-4-11-2004電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn) 
        IEC61000-4-12-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振鈴抗擾度試驗(yàn)
        IEC61000-4-18-2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 衰減振蕩抗擾度試驗(yàn)

      

    電磁兼容(EMC)測(cè)試環(huán)境及設(shè)備介紹

      電磁兼容是研究在有限的空間、時(shí)間、頻譜資源條件下,各種用電設(shè)備(廣義還包括生物體)可以共存,并不致引起降級(jí)的一門學(xué)科。它包括電磁干擾和電磁敏感度兩部分,電磁干擾測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號(hào)的大小來(lái)反應(yīng)對(duì)周圍電子設(shè)備干擾的強(qiáng)弱。電磁敏感度測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備對(duì)電磁騷擾的抗干擾的能力強(qiáng)弱。電磁干擾主要包括輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射。

       輻射發(fā)射:

       通過(guò)空間以電磁波形式傳播的電磁干擾。

       傳導(dǎo)發(fā)射:

      沿著導(dǎo)體傳播的電磁干擾。

       測(cè)試場(chǎng)地:

      開(kāi)闊場(chǎng)、半電波暗室、屏蔽室。

       電磁干擾測(cè)試主要設(shè)備:

      1、電波暗室 2、接收機(jī)3、接收天線 4、人工電源網(wǎng)絡(luò)

      5、功率吸收嵌 6、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái) 7、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái)控制器

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