利用頻譜儀和TEM小室進(jìn)行輻射干擾測量

此倒車?yán)走_(dá)由一個(gè)帶有蜂鳴器的控制器和兩個(gè)雷達(dá)模塊組成。接線主要包含連接控制器的主供電線纜以及控制器與兩個(gè)雷達(dá)模塊之間的通信及供電線纜。


利用頻譜儀和TEM小室進(jìn)行輻射干擾測量


圖一 倒車?yán)走_(dá)結(jié)構(gòu)示意圖

以下是在暗室測量之后未通過界面的截圖:


利用頻譜儀和TEM小室進(jìn)行輻射干擾測量


圖2 未通過界面截圖

由圖可見,紅色線表示CISPER 25第四類的模板限量,藍(lán)色線表示實(shí)測譜線。在530KHz到1.1MHz的頻段范圍內(nèi),測量出的輻射干擾超出了模板的限量。同時(shí),我們還測試了將連接雷達(dá)模塊線纜斷開的情況,發(fā)現(xiàn)仍然通不過標(biāo)準(zhǔn)。

分析

分析上圖的譜線我們可以得到一些信息:在低頻范圍內(nèi),該設(shè)備的輻射噪聲是超出標(biāo)準(zhǔn)的,我們假定引起這個(gè)問題的,是一個(gè)低頻的數(shù)字信號(hào)。

相對(duì)較寬的頻譜,不含離散的譜線,意味著該超標(biāo)的頻譜噪聲來源很可能是來自于控制器本身或者控制器和雷達(dá)模塊之間的串行接口。

正如我們之前提到的,斷開控制器和雷達(dá)模塊之間的線纜,測試也沒通過,所以我們初步認(rèn)為,引起這個(gè)超標(biāo)的源頭在于控制器。

實(shí)測

頻譜分析儀,近場探頭,結(jié)合恒電磁波傳輸小室(簡稱TEM小室,Transverse Electromagnetic Transmission Cell)能作為識(shí)別輻射干擾根源的基本工具。本次測試我們采用鼎陽科技SSA3021X頻譜分析儀和選配的近場探頭以及TekBox的TEM小室。

首先我們打開頻譜分析儀然后設(shè)置如下:

SPAN設(shè)置為530KHz到2MHz;RBW設(shè)置為9KHz,衰減設(shè)置為0dB,顯示設(shè)置為電壓平均;打開頻譜儀標(biāo)配的預(yù)置放大器,并選用正峰值檢波器,測試結(jié)果如下:


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圖3 頻譜儀基礎(chǔ)設(shè)置

在以上設(shè)置參數(shù)參考的情況下,顯示平均噪聲電平(DANL,Displayed Average Noise Floor)大約在-20dBμV 左右,這個(gè)指標(biāo)在同級(jí)別的頻譜儀中算是非常好的。 然而,我們還是需要考慮到在這個(gè)頻段范圍內(nèi)可能會(huì)有AM廣播信號(hào)的干擾。

接下來我們連接空的TEM小室,驗(yàn)證以上猜想,顯示頻譜如下:


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圖4 連上TEM小室之后的實(shí)測結(jié)果

正如我們預(yù)想的那樣,在530KHz到1.1MHz這個(gè)頻段內(nèi),基本被廣播信號(hào)填滿了(圖中可見的尖峰毛刺)。接下來我們需要弄清楚,待測設(shè)備DUT(Device Under Test)的輻射泄放的幅值在TEM空載的幅值之上還是之下。

DUT設(shè)置

接下來,將包括電纜和雷達(dá)模塊的DUT放置在TEM小室內(nèi)并通電:


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圖5 將DUT放置在TEM小室內(nèi)并通電

在頻譜儀中設(shè)置跡線跟蹤為*大保持,此時(shí)結(jié)果如下:


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圖6 設(shè)置跡線跟蹤為*大保持

我們可以從圖中的波峰軌跡大致看出來,結(jié)果基本與初次在吸波暗室中測量的結(jié)果是相符的,盡管在此頻段范圍內(nèi)有一些AM廣播信號(hào)的干擾(圖中可見的一些毛刺)。

從圖中也可以看出,我們利用TEM小室測出的幅值大約比在吸波暗室中測得的結(jié)果低20dBμV左右。

然后同樣地,我們將和雷達(dá)連接的線纜移除,發(fā)現(xiàn)和之前在吸波暗室的測量結(jié)果一致,仍然未通過標(biāo)準(zhǔn)。

PS:為了簡便起見,線纜仍然和控制器保持物理連接,但已移動(dòng)到TEM小室隔膜的另一端。


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圖7 移除和雷達(dá)相連的線纜后的連接

令人驚奇的是,我們發(fā)現(xiàn),移除線纜降低了DUT的輻射噪聲:


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圖8移除線纜后的測試結(jié)果

移除線纜可以使輻射噪聲降低11dBμV左右。事實(shí)上,我們并未拆除線纜,但兩個(gè)雷達(dá)模塊已經(jīng)斷開連接。這也解釋了為什么譜線的波峰的相對(duì)幅度在吸波暗室和TEM小室的測量結(jié)果有所不同。線纜是直著放在吸波暗室中的,但在TEM小室中,它是卷曲的。

結(jié)論

移除線纜可以明顯觀察到DUT輻射噪聲的降低。盡管如此,即使我們移除兩個(gè)雷達(dá)線纜,測量結(jié)果仍然顯示未通過。事實(shí)上,在去掉雷達(dá)模塊的情況下,控制器也會(huì)不斷嘗試通過串行線纜進(jìn)行通信----并且不會(huì)超時(shí)。因此,我們推測,連接雷達(dá)模塊和控制器之間的串行通信接口很有可能是導(dǎo)致該輻射噪聲超標(biāo)的罪魁禍?zhǔn)?。為了?yàn)證我們的猜想,我們需要對(duì)通信接口做一些過濾。

由于鎳鋅鐵氧體磁導(dǎo)率比較低,在低頻段的使用性能不高,因此我們決定在線纜中串聯(lián)電阻。這算是一種非常實(shí)用的辦法,因?yàn)镻CB上已經(jīng)安裝了0歐姆的串聯(lián)電阻。通過用1K歐姆的電阻替換0歐姆的電阻可以使輻射噪聲降低到12dBμV左右。但是,導(dǎo)致的結(jié)果卻是串行接口沒法可靠地工作在指定的電壓范圍內(nèi)。所以,我們還需要調(diào)整晶體管串行電路中的一些其他電阻,以解決輻射噪聲超標(biāo)問題,同時(shí)也能保證串行接口的性能。進(jìn)行了一些修改并重新測量之后,結(jié)果顯示如下:


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圖9 修改后的測試結(jié)果

為了更清楚地展示這個(gè)變化,我們重新設(shè)置了頻譜儀的SPAN,使得其剛好在兩個(gè)相鄰的廣播頻道之間,意味著測量的頻譜結(jié)果幾乎沒有AM廣播信號(hào)的干擾。

如下是在修改之前的屏幕截圖:


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圖10 修改前截圖

如下是修改之后屏幕截圖:


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圖11 修改之后的截圖

通過截圖可知,修改后的輻射噪聲水平下降了12dBμV。

經(jīng)過修改后,我們重新在暗室進(jìn)行了測量,以下是*終測量結(jié)果的截圖:


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圖12 *終在暗室進(jìn)行的測試結(jié)果截圖

如圖所示,測試設(shè)備*終通過了500KHz到2MHz頻段的輻射噪聲測試。

總結(jié)

利用頻譜儀和TEM小室來做輻射噪聲測試是一種非常經(jīng)濟(jì)實(shí)用的方法。要知道,專門用于EMC一致性測試的吸波暗室造價(jià)成本高達(dá)幾百萬,即使是送到專門的機(jī)構(gòu)測試, 也需要多次整改和測試,費(fèi)用也不菲。

輻射噪聲一般具有相對(duì)較寬的頻譜范圍,沒有尖銳的波峰。盡管有一些廣播電臺(tái)的頻譜干擾,頻譜儀和TEM小室也能很好地對(duì)設(shè)備的輻射噪聲進(jìn)行測試和觀察。

利用EMC近場探頭可以定位和識(shí)別PCB上的輻射泄露源,頻譜儀結(jié)合TEM小室可以對(duì)整改后的設(shè)備進(jìn)行多次測試, 以判斷其是否符合EMC規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)。在對(duì)多個(gè)獨(dú)立單元以及線纜互聯(lián)的設(shè)備進(jìn)行測試時(shí)也是非常實(shí)用的。

改進(jìn)倒車?yán)走_(dá)這個(gè)案例需要進(jìn)行多次反復(fù)整改才能找到既滿足EMC合規(guī)性標(biāo)準(zhǔn),又能符合產(chǎn)品實(shí)際功能要求的理想解決方案。如果我們在每次整改之后,都要送到專用的暗室進(jìn)行測量的話,成本是非常高昂的,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過我們購買頻譜儀和TEM小室的預(yù)算。

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